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摘要:
大功率LED器件的结温是其热性能的重要指标之一,温度对LED的可靠性产生重要的影响.采用板上封装的方法,利用大功率芯片结合金属基板封装出了大功率白光LED样品,利用LED光强分布测试仪测试了器件的Ⅰ-Ⅴ曲线,用正向电压法测量了器件的温度敏感系数,进而通过测量与计算得到器件的结温和热阻.最后利用有限元对器件进行实体建模,获得了器件的温度场分布.测量结果表明:正向电压与结温有很好的线性关系,温度敏感系数为2mV·℃-1,LED的结温为80℃,热阻为13℃·W-1.有限元模拟的结果与实测值具有良好的一致性.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 大功率白光LED的结温测量
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 大功率LED 结温 热阻 有限元
年,卷(期) 2008,(12) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 10-12,16
页数 4页 分类号 TN307
字数 1380字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2008.12.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王杏 河南理工大学材料科学与工程学院 26 323 10.0 17.0
2 关荣锋 河南理工大学材料科学与工程学院 43 485 13.0 20.0
3 田大垒 河南理工大学材料科学与工程学院 21 282 10.0 16.0
4 赵文卿 河南理工大学材料科学与工程学院 17 221 9.0 14.0
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研究主题发展历程
节点文献
大功率LED
结温
热阻
有限元
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
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9543
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