电子产品的静电放电危害及其测试

• 作者: 于志鹏 潘长清
• 来源期刊: 仪器仪表标准化与计量
• 学科: 工学
• 关键词: 电子产品 静电放电 测试方法
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 论述与研究
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TM92
• 字数: 3034字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5611.2008.05.003

摘要

随着电子技术的发展和产品复杂程度的提高,静电放电的潜在威胁已经越来越突出.本文就静电产生的机理,对电子产品的危害及静电敏感度测试做了探讨,对电路设计提出了一些对策.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于志鹏		6	18	2.0	4.0
2	潘长清		4	8	1.0	2.0