基于残差修剪的激光光斑高精度定位方法

• 作者: 刘上乾 卢泉 王会峰
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 弯曲度测量 残差修剪 几何特征约束 最小二乘拟合法
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 仪器、测量与计量
• 页码范围: 2311-2315
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 2171字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2008.12.014

摘要

为满足复杂靶标背景下激光光斑形心的高精度定位要求,提出了一种基于几何特征约束残差修剪的定位方法.首先通过分析成像特点提取激光光斑;然后在几何特征约束下对残差边缘进行二次修剪,优化边缘;最后利用最小二乘拟合法得到激光光斑形心的精确定位,并将其应用于火炮的重要静态参数--弯曲度测量.实验结果表明,该方法具有较强的稳定性,定位精度高且实时性好,与传统的定位方法相比,复杂靶标上激光光斑的水平和竖直定位偏差均由±1.2 pixel提高到±0.2 pixel,单次定位时间小于0.31 s,可实现复杂靶标背景下激光光斑形心的快速精确定位.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘上乾	西安电子科技大学技术物理学院	128	1852	22.0	36.0
2	卢泉	西安电子科技大学技术物理学院	10	102	5.0	10.0
3	王会峰	西安电子科技大学技术物理学院	18	154	8.0	11.0