μ-TAS领域光谱检测"集成缩微"现状及激光微技术的研究

• 作者: 任艺 古冬冬 吴坚
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 微型全分析系统 光谱检测 功能集成结构缩微
• 年，卷（期）: 2008,（z1）
• 所属期刊栏目: 计量应用
• 页码范围: 222-225
• 页数: 4页
• 分类号: TB99
• 字数: 3053字
• 语种: 中文

摘要

光谱微检测技术是微全分析系统(μ-TAS)生化芯片的常用核心技术之一.对国内外相关文献进行分析表明,"功能集成与结构缩微"技术是当前μ-TAS领域对光谱微检测提出的迫切要求.对"集成与缩微"方面研究现状进行了综述,并对与此有关的激光微技术研究作了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴坚	北京工业大学激光工程研究院	14	40	3.0	6.0
2	古冬冬	北京工业大学激光工程研究院	3	2	1.0	1.0
3	任艺	北京工业大学激光工程研究院	3	2	1.0	1.0