局部放电对脉冲电容器的绝缘老化及其失效的影响分析

• 作者: 任志超 冉汉政 吴广宁 周力任 张星海 彭倩
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲电容器 直流局部放电 老化 大电流脉冲 表面形貌
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 489-492
• 页数: 4页
• 分类号: TM531.2
• 字数: 4088字
• 语种: 中文

摘要

为了研究电容器的寿命与其工作可靠性的关系,笔者通过对脉冲电容器进行允放电老化试验,并对处于不同寿命阶段的电容器进行直流局部放电测试,得到最大放电量、平均放电量和平均放电重复率随寿命变化的曲线;借助电子显微镜观察处在不同老化寿命阶段电容器薄膜的表面微观形貌,分析充放电老化试验对其微观形貌的影响.最后结合电容器实际击穿情况,分析总结了导致脉冲电容器局部放电性能变化以及老化击穿的因素,指出电极边缘区域存在的局部绝缘缺陷是电容器失效的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	冉汉政	西南交通大学电气工程学院	5	135	5.0	5.0
3	任志超	西南交通大学电气工程学院	13	200	9.0	13.0
4	周力任	西南交通大学电气工程学院	11	133	7.0	11.0
5	张星海	西南交通大学电气工程学院	8	133	7.0	8.0
7	彭倩	西南交通大学电气工程学院	9	56	5.0	7.0