用于Z箍缩X辐射谱诊断的柱面凸晶摄谱仪的性能分析

• 作者: 叶凡 徐荣昆 李正宏 杨建伦 秦义 薛飞彪 郭存
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 地球科学
• 关键词: 丝阵Z箍缩 X辐射谱 柱面凸晶摄谱仪 光线追迹
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 383-386
• 页数: 4页
• 分类号: O536|N37
• 字数: 1728字
• 语种: 中文

摘要

考虑X光源的空间尺寸和晶体的摇摆曲线,用光线追迹方法计算了诊断丝阵Z箍缩等离子体X辐射谱的柱面凸晶摄谱仪的色散、能谱分辨和空间分辨以及系统参数对它们的影响.结果表明:决定柱面凸晶摄谱仪能谱分辨的主要因素是光源尺寸以及光源-晶体之间距离;增大光源-晶体之间距离能够改善能谱分辨,但导致径向空间分辨能力下降.并依此建立了云母晶体摄谱仪,在"强光一号"装置上对系统进行了测试,获得时间积分铝丝阵负载Z箍缩等离子体X辐射谱.