硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计

• 作者: 千奕 徐四九 李小刚 苏弘
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 硅条探测器 前端ASIC 测试系统 硬件设计
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 核电子学与仪器
• 页码范围: 229-232
• 页数: 4页
• 分类号: TL8
• 字数: 2576字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.03.015

摘要

介绍一种前端读出专用集成电路(ASIC,Application-Specific Integrated Circuit)芯片性能测试系统的电路设计与实现.该ASIC芯片可用于构成硅微条探测器、硅条、Si(Li)和CsI探测器的前端读出电子学系统.本文详细描述了测试系统的构成,主要电路设计,系统应用以及部分测试结果,并简要介绍了被测ASIC芯片的电路结构.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李小刚	中国科学院近代物理研究所	37	238	9.0	14.0
2	苏弘	中国科学院近代物理研究所	88	364	9.0	15.0
3	千奕	中国科学院近代物理研究所	21	80	5.0	8.0
7	徐四九	中国科学院近代物理研究所	1	13	1.0	1.0