高功率半导体激光器的m值与器件质量的相关性

• 作者: 刘奎学 曹军胜 李红岩 梁庆成 石家纬 胡贵军 郭树旭
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体激光器 理想因子m 质量
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 光电器件
• 页码范围: 847-850
• 页数: 4页
• 分类号: TN248.4
• 语种: 中文

摘要

用电导数技术测量了高功率半导体激光器及阵列激光器的m值,讨论了影响m值大小的因素及与器件质量的相关性.结果表明,m值是器件质量和可靠性的重要标志之一,对于同种器件,质量好的器件的m值一定在某范围之内.对取值范围进行了讨论.