一种用于μ子成像检测技术的探测器校正方法

• 作者: 刘圆圆 张丽 王振天 赵自然 陈志强
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: μ子成像检测技术 探测器校正 线性相关性 Geant4
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 页码范围: 712-716
• 页数: 5页
• 分类号: TL99|TL816.5
• 字数: 1647字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2008.04.010

摘要

宇宙射线μ子成像检测技术具有穿透力强、对高Z材料敏感等特点,特别适合检测特殊核材料,是监控核材料走私的有效方式之一.数据校正问题是实现μ子成像检测技术的关键难点之一,由于环境本底,周围噪声,探测器的误差等外界因素的影响使得原始数据不能直接使用,如果不做任何校正就将原始数据认为是可用数据进行重建成像,将会出现严重的伪像.根据μ子成像检测系统的特点,本文针对探测器偏移带来的误差提出了一种校正方法.数值实验结果表明该方法能够有效地对探测器发生的偏移进行准确的校正,这有助于推动宇宙射线μ子成像检测技术早日投入实际应用.