针对JTAG调试的RTL验证环境设计原理

• 作者: 吕良 施乐宁 邓中亮 韩可
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: JTAG ARM7TDMI 系统芯片 RTL验证
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 72-76,87
• 页数: 6页
• 分类号: TN74
• 字数: 2688字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2008.01.023

摘要

以ARM7TDMI为例提出了一种在RTL仿真时即可进行JTAG调试的方法.利用该方法在RTL仿真时即可进行ARM的JTAG调试.首先详细分析了JTAG的边界扫描标准及工作原理,而后以ARM7TDMI为例分析了ARM的扫描链的设计原理及控制方法,从中给出了如何利用JTAG控制ARM7TDMI扫描链来完成ARM的行为控制.该方法还可以通过ARM的控制进而完成对SoC中其他模块的验证.通过该原理建立JTAG接口软仿真验证平台,可以在RTL仿真时验证ARM的JTAG调试功能以及SoC的初步测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓中亮	北京邮电大学电子工程学院	165	1541	20.0	31.0
2	施乐宁	北京航空航天大学电子信息工程学院	3	22	3.0	3.0
3	韩可	北京邮电大学电子工程学院	7	38	4.0	6.0
4	吕良	北京邮电大学电子工程学院	5	44	3.0	5.0