结构简单的X射线二极管及其性能指标测定

• 作者: 朱秋石 王骐 程元丽 赵永蓬 黄斌
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 激光技术 X射线二极管 能量标定 同步辐射
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: 实验技术与元件
• 页码范围: 1338-1341
• 页数: 4页
• 分类号: TN248
• 字数: 2075字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2008.09.008

摘要

研制了一种可用于测量软X光辐射的X射线二极管(XRD).该XRD具有结构简单、对偏压及真空度要求较低、响应面积大等特点.分析了 XRD的响应时间和饱和电流等特性,给出了能量计算公式,同时采用同步辐射光源对XRD进行了能壁标定,标定结果与理论计算结果一致.利用该XRD对毛细管放电类氖氩46.9 nm激光脉宽和能量进行了测量.