基于故障注入的基准电路故障响应分析

• 作者: 俞振华 江建慧
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 集成电路 故障响应率 单故障 双重故障
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 6-8
• 页数: 3页
• 分类号: TN710
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.04.003

摘要

为了提高集成电路的成品率,试图采用更简便有效的方法测试芯片,并获得反映电路特性的故障响应率,在进行电路功能仿真(前仿真)或电路时序仿真(后仿真)的过程中,对电路注入单故障或多故障,然后在电路存在故障的情况下,模拟电路的行为,获得电路的故障响应率.实现了一个通用的数字电路"故障响应分析"程序,他模拟电路注入故障,收集模拟结果,通过分析获取电路的故障响应率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江建慧	同济大学电子信息与工程学院	91	680	14.0	21.0
2	俞振华	同济大学电子信息与工程学院	1	2	1.0	1.0