基于库替换技术的单粒子效应故障注入仿真

• 作者: 刘立全 岳素格 范隆 郑宏超
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 故障注入 FPGA仿真 SEE
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 页码范围: 60-64
• 页数: 5页
• 分类号: TP302.8
• 语种: 中文

摘要

提出了一种新的故障注入仿真方法,研发了故障单元库替换仿真工艺库技术,与以往方法相比,该技术可以方便快速地在目标电路的所有节点上注入故障来模拟SEE,因而更贴近实际物理过程,仿真结果可以得到所有节点的敏感度信息并评价电路总体抗SEE性能,供初期芯片设计人员参考改进.同时利用C#程序和FPGA硬件加速仿真,使得故障注入更加便捷高效,注入速度达到了8.03 μs/fault.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	岳素格		28	96	5.0	8.0
2	郑宏超		16	23	2.0	4.0
3	范隆		6	17	2.0	4.0
4	刘立全		2	10	1.0	2.0