界面测量的改进方案探讨

• 作者: 洪宝庆
• 来源期刊: 世界仪表与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 界面测量 射频导纳仪 导波雷达物位计
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 页码范围: 65-66
• 页数: 2页
• 分类号: TU47

摘要

工业测量技术是一门迅速发展的高新技术，工业测量技术与仪表种类繁多。给实际生产中对测量仪表的选择提供了很大空间，同时也带来了合理选型的难度。合理的选用测控仪表将大大提高系统的控制品质，从而提高生产的稳定性，保证产品质量。