纳秒脉冲气体放电机理探讨

• 作者: 严萍 孙广生 张适昌 邵涛
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 气体放电 流注理论 流注判据 逃逸击穿
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 脉冲功率技术
• 页码范围: 1928-1932
• 页数: 5页
• 分类号: O461|TM89
• 字数: 3544字
• 语种: 中文

摘要

经典Townsend机理和流注理论是气体放电研究的基础,但在解释纳秒脉冲气体放电时均存在一定缺陷.基于经典气体放电理论,探讨纳秒脉冲气体放电机理,分析流注理论判据在纳秒脉冲气体放电中的有效性,解释纳秒脉冲下电子逃逸现象和基于电子逃逸的快速电离波击穿理论,仿真计算高能快电子的逃逸过程.结果认为基于高能量快电子的逃逸击穿将是可能解释纳秒脉冲下气体放电现象的依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严萍	中国科学院电工研究所	191	2402	27.0	36.0
2	孙广生	中国科学院电工研究所	50	692	16.0	24.0
3	邵涛	中国科学院电工研究所	68	811	17.0	26.0
4	张适昌	中国科学院电工研究所	33	665	15.0	25.0