软件缺陷增长过程的混沌分析

• 作者: 曹旭 聂剑平 陈光 韩柯
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 软件缺陷 软件缺陷增长 确定性增长 混沌
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 研发、设计、测试
• 页码范围: 97-100
• 页数: 4页
• 分类号: TP311
• 字数: 6146字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2008.11.027

摘要

软件缺陷的概念在软件质量范畴中处于举足轻重的地位.通过分析促进软件缺陷增长的动因,提出了自增长型缺陷和非自增长型缺陷的概念,把软件缺陷增长分为确定性增长和不确定性增长两个部分,随后,通过对软件缺陷确定性增长进行的建模分析,发现软件缺陷确定性增长过程是完全可能在一定的条件下呈现出混沌状态的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩柯	中国电子设备系统工程公司系统所	14	35	4.0	5.0
2	陈光	中国电子设备系统工程公司系统所	12	18	3.0	3.0
3	曹旭	中国电子设备系统工程公司系统所	4	6	2.0	2.0