辐射测温中光谱发射率的表征描述

• 作者: 杨臧健 程晓舫 符泰然 钟茂华
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 物理学
• 关键词: 辐射测温 光谱发射率 温度 谱色测温
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: O432.1
• 字数: 3177字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593.2008.01.001

摘要

实际物体的光谱发射率表现复杂, 给辐射测温的深入研究和实际应用带来了很多困难和不确定性, 发射率问题即成为了辐射测温研究中的关键点. 文章基于光谱发射率的泰勒多项式展开、波长的无量纲参数、弯曲度指数等分析, 描述了谱色测温法中光谱发射率的数学表征, 建立了窄波段内的光谱发射率通用函数形式. 并通过对不同温度下几种金属的实际光谱发射率进行拟合分析, 对此给予了实验上的验证, 表明了所提出光谱发射率模型具有应用的适用性, 该模型是谱色测温方法应用研究的基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程晓舫	中国科学技术大学热科学和能源工程系	99	994	15.0	27.0
2	钟茂华		57	1358	22.0	35.0
3	杨臧健	中国科学技术大学热科学和能源工程系	8	123	5.0	8.0
4	符泰然		16	531	10.0	16.0