同步辐射计算机断层技术光源误差机理分析

• 作者: 余晓流 岑豫皖 朱佩平 汪敏 胡小方
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 同步辐射 计算机断层 光源 误差
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 总论
• 页码范围: 6202-6206
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2008.10.024

摘要

基于同步辐射X射线的优越特性及计算机断层重建技术对材料无损检测等优点,同步辐射计算机断层重建技术被广泛应用于很多领域.本文对光源非均匀、过饱和以及过穿透的三种情形所引起同步辐射计算机断层技术重建误差的形成机理进行了分析研究,给出了三种情形所引起误差的基本形式.在此基础上,对这三种误差进行了数值模拟,模拟结果证实了分析的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余晓流	安徽工业大学机械工程学院	73	366	8.0	15.0
2	岑豫皖	安徽工业大学机械工程学院	85	1014	14.0	28.0
3	朱佩平	中国科学院高能物理研究所同步辐射室	54	425	11.0	19.0
4	胡小方	中国科学技术大学中国科学院材料力学行为和设计重点实验室	28	264	9.0	15.0
5	汪敏	安徽工业大学机械工程学院	28	107	6.0	8.0