提高分辨率的带宽外推SAR成像算法

• 作者: 张平 杨汝良
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 合成孔径雷达 超分辨率 谱外推 最小方差谱估计 最小加权范数
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 数据采集与图像处理
• 页码范围: 457-461
• 页数: 5页
• 分类号: TN958
• 字数: 3437字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2009.05.016

摘要

分析了合成孔径雷达(SAR)的图像信号模型,阐述了应用数据外推方法提高分辨率的可行性.提出一种最小方差谱估计和最小加权范数约束结合的非参数类数据外推方法.该方法外推SAR相位历史域信号有效带宽可得到较好的成像效果.仿真和实测数据处理证明了此方法的有效性,并给出了定量比较与分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张平		180	2022	23.0	35.0
5	杨汝良	中国科学院电子学研究所	146	1737	23.0	32.0