均匀线阵阵元缺损对目标检测的影响分析

• 作者: 朱德智 闫冯军
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 阵元缺损 均匀加权 锥化 波束方向图 单脉冲测角
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 探测制导、测控通信与电子对抗
• 页码范围: 398-403,408
• 页数: 7页
• 分类号: TN958.92
• 字数: 4230字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2892.2009.05.006

摘要

在一定条件下,阵元缺损对均匀线阵(ULA)的波束形成产生较大影响,进而影响雷达的检测性能.对均匀加窗和锥化两种情况下,缺损阵元在不同位置时对波束形成产生的影响进行了分析.通过分析发现,缺损阵元在阵列中心时,阵元缺损会对锥化波束形成的方向图产生显著的影响,并对单脉冲测角误差曲线产生影响,对于小型均匀线阵影响更大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱德智		2	9	1.0	2.0
2	闫冯军		2	9	1.0	2.0