高Q腔法测试透波材料毫米波复介电常数

• 作者: 何凤梅 吴超 李恩 郭高凤
• 来源期刊: 宇航材料工艺
• 学科: 航空航天
• 关键词: 圆柱谐振腔 复介电常数 微波测试
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 测试分析
• 页码范围: 82-84
• 页数: 3页
• 分类号: V2
• 字数: 1623字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2330.2009.01.023

摘要

介绍了透波材料毫米波复介电常数自动测试方法,采用高Q腔一腔多模扫频(18～40 GHz)方法测试了微波低损耗圆盘状介质材料,谐振腔工作在TE10p模式,电场的极化方向平行于样品表面.为适应毫米波段材料测试的要求,在设计测试用宽频高Q值谐振腔时,改变以往工作中腔壁开槽位置以抑制TM1mn简并模,对测试用谐振腔的设计大大减小了测试误差.用此系统对几种低损耗材料进行测量,结果证明谐振腔有效Ё抑制了干扰模式,减小了测试误差.对测试结果进行了误差分析,系统的最可几测试误差为:|△εr/εr|=2%;|△tanδ|=10%tanδ+5×10-5.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭高凤		24	238	10.0	14.0
2	李恩		36	316	10.0	15.0
3	何凤梅	航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室	12	73	6.0	8.0
4	吴超		3	15	2.0	3.0