镁合金微弧氧化膜层结构分析

• 作者: 刘江文 罗承萍 陈显明
• 来源期刊: 中国表面工程
• 学科: 工学
• 关键词: 镁合金 微弧氧化 膜层 XPS分析
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 45-49
• 页数: 5页
• 分类号: TG146
• 字数: 1816字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-9289.2009.05.010

摘要

对镁合金微弧氧化膜层结构进行分析测试,所采用的手段主要有X-ray、SEM、EDS和XPS.通过测试发现,膜层中的物相Mg、MgO、MgSiO3、MgAl2O4会随着膜层深度的不同有不同的分布.通过表面价态和结合能的分析,发现膜层中还含有少量的SiO2和Al2O3.并测试了一些含Mn或Cr的着色膜表面,发现样品表面不含有Mn或Cr元素,这些元素应该是通过表面层多孔结构进入到膜层较深处参与反应并分布在膜层深处.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘江文	华南理工大学材料学院	59	918	16.0	28.0
2	罗承萍	华南理工大学材料学院	80	1286	19.0	33.0
3	陈显明	肇庆学院电子信息与机电工程学院	20	119	7.0	10.0