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摘要:
优化设计了InGaAs/AlAs/InP共振遂穿二极管(RTD)材料结构,并用MBE设备在(100)半绝缘InP单晶片上生长了RTD外延材料.用电子束光刻工艺和空气桥互连技术,制作了InP基RTD器件.在室温下测试了器件的电学特性:峰值电流密度78 kA/cm2,峰谷电流比(PVCR)为7.8.用空气桥互连技术实现该类器件,在国内尚属首次.
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文献信息
篇名 利用空气桥技术实现InP基共振遂穿二极管器件
来源期刊 中国电子科学研究院学报 学科 工学
关键词 共振遂穿二极管 电子束光刻 空气桥
年,卷(期) 2009,(5) 所属期刊栏目 基础理论
研究方向 页码范围 516-518
页数 3页 分类号 TN312.2
字数 1513字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1673-5692.2009.05.015
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研究主题发展历程
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共振遂穿二极管
电子束光刻
空气桥
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中国电子科学研究院学报
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北京市海淀区万寿路27号电子大厦电科院学报1313房间
2006
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