基于多通道控制器的扫频近场测量

• 作者: 刘征 李勇 李焱明
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 天线近场测量技术 多通道扫频测量 HP85330A
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 54-59
• 页数: 6页
• 分类号: TN820
• 字数: 2999字
• 语种: 中文

摘要

为了对被测天线进行快速、定量的动态测量,获得天线频带特性的实时测量结果,可以采用多通道扫频近场测量方法.本文提出了一种采用85301B天线自动测量系统,使用HP85330A作为系统控制器的多通道扫频近场测量方法.在一定的频段内进行点频和扫频测试,将点频和扫频近场数据变换成远场方向图,并对各频点的数据进行比较分析.最后分析了误差产生原因并给出了一种修正方法.测试数据表明与传统的点测法相比,有效地降低了测量时间,提高了测量系统的测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李勇	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	28	174	6.0	12.0
2	李焱明	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	3	13	2.0	3.0
3	刘征	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	5	49	4.0	5.0