低气压下长串绝缘子的直流污闪特性

• 作者: 孙才新 张志劲 胡建林 蒋兴良
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高电压与绝缘技术 低气压 长串 直流电压 污秽绝缘子 闪络特性
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 299-303
• 页数: 5页
• 分类号: TM855
• 字数: 3308字
• 语种: 中文

摘要

为了解污秽和高海拔对正在建设的云广±800 kV直流特高压线路外绝缘面临的综合影响,利用大型多功能人工气候室进行了低气压下XZP-210绝缘子长串直流污秽闪络特性试验研究.确定了利用人工气候室模拟高海拔进行污闪试验的方法.研究表明:海拔232 m～3 km且盐密为0.03～0.15 mg/cm2时,XZP-210绝缘子直流污闪电压与串长呈线性关系;绝缘子直流污秽闪络电压与污秽满足负幂指数函数关系,其污秽影响特征指数b值为0.337～0.352,且受气压的影响;直流污秽绝缘子闪络电压随气压的降低而降低,其气压影响特征指数n为0.35～0.42,且污秽越重,n值越小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙才新	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	379	13536	63.0	93.0
2	蒋兴良	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	218	5355	38.0	64.0
3	张志劲	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	104	2551	29.0	47.0
4	胡建林	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	105	1743	26.0	37.0