退化失效线性模型及统计分析

• 作者: 刘合财
• 来源期刊: 贵阳学院学报（自然科学版）
• 学科: 数学
• 关键词: 退化轨迹 失效阈值 随机截距 随机斜率
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 基础理论研究
• 页码范围: 5-7,10
• 页数: 4页
• 分类号: O151.25
• 字数: 2304字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6125.2009.04.002

摘要

利用退化试验进行高可靠长寿命的产品可靠性分析是一条行之有效的途径.基于产品性能退化量,根据绝对和相对失效标准下的产品寿命,分别讨论了退化失效下的随机截距和随机斜率线性模型,并给出了随机参数服从正态和Weibull分布情形下的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘合财	贵阳学院数学系	20	59	4.0	6.0