基于电子探针背景的精细测量方法

• 作者: 姚杰 姚立 田地
• 来源期刊: 吉林大学学报(工学版)
• 学科: 地球科学
• 关键词: 地质学 精细测量 曲线拟合 电子探针背景
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 240-243
• 页数: 4页
• 分类号: P575.1
• 语种: 中文

摘要

由于X射线谱线的背景干扰和曲率变化,使得电子探针定量分析会产生误差,且元素质量分数越低误差越显著.为准确测量和扣除X射线谱线背景,研究了谱线背景的测量和扣除方法,并设计了相应控制测量软件.首先通过完善的元素特征X射线波长数据库判断出测量元素的背景干扰情况,对有干扰或有曲率变化的谱线背景进行多点精细测量,再采用线性或多项式拟合方法计算扣除背景.对标准样品III-HN8520和I-E0781进行了测试,结果表明,该方法比原方法降低了谱线干扰,提高了定量分析数据的准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田地		94	882	13.0	26.0
2	姚立		12	33	4.0	5.0
3	姚杰		13	80	5.0	8.0