静态随机访问存储器型现场可编程门阵列辐照效应测试系统研制

• 作者: 何宝平 姚志斌 张凤祁 张科营 王圆明 罗尹虹 郭红霞
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列 辐照效应 测试系统 静态随机访问存储器
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 加速器技术
• 页码范围: 749-754
• 页数: 6页
• 分类号: TN386.1
• 字数: 3450字
• 语种: 中文

摘要

在调研静态随机访问存储器型现场可编程门阵列(FPGA)器件空间辐照效应失效机理的基础上,详细论述FPGA辐照效应测试系统内部存储器测试、功能测试及功耗测试的实现原理,给出了系统的软硬件实现方法.所建立的系统可以测试FPGA器件的配置存储器翻转截面、块存储器翻转截面、功能失效截面、闭锁截面等多个参数,其长线传输距离达到50 m以上,最大可测门数达到了100万门,为FPGA辐照效应研究提供了测试平台.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何宝平		46	291	9.0	13.0
2	罗尹虹		54	199	8.0	10.0
3	张凤祁		40	169	8.0	10.0
4	郭红霞		81	385	10.0	13.0
5	姚志斌		35	171	8.0	10.0
6	张科营		23	111	7.0	8.0
7	王圆明		6	22	3.0	4.0