碳电极材料石墨化度和无序度的X射线衍射测定

• 作者: 刘芳 李辉 杨传铮
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 石墨化度 无序度 全谱拟合 d002法 X射线衍射
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 信号检测、算法与仿真
• 页码范围: 161-167
• 页数: 7页
• 分类号: TM9111
• 字数: 3079字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2009.02.013

摘要

介绍了测定碳电极材料石墨化度g和无序度P的X射线衍射(XRD)原理与方法,包括从二维(1 0)和(1 1)衍射的Fourier分析、全谱拟合法以及利用石墨化度g与d002之间的关系曲线的方法.提出由θ002求g的方法和新公式.进行了石墨化度与无序度测定的实验研究,包括不同实验条件对全谱拟合结果的影响、不同求解d002的影响,以及d002法、θ002法与全谱拟合法的比较.结果表明,全谱拟合法求得的无序度PWSF在用d002法的直线和曲线测得的结果之间,d002法和θ002法测得的g符合很好.提出全谱拟合法和用Si粉作内标样的d002及θ002法的衍射实验测定最佳方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨传铮	中国科学院微系统与信息技术研究所	33	168	7.0	11.0
2	李辉		2	19	2.0	2.0
3	刘芳		1	7	1.0	1.0