不同温度硅纳米薄膜在表面重构下杨氏模量的分子动力学研究

• 作者: 于虹 王雅斌 谭一云
• 来源期刊: 纳米科技
• 学科: 物理学
• 关键词: 分子动力学 杨氏模量 表面重构 温度效应
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 基础理论研究
• 页码范围: 8-12
• 页数: 5页
• 分类号: O313|O484
• 语种: 中文

摘要

采用分子动力学方法计算了100K到800K之间(001)面硅纳米薄膜(1nm,2nm厚)[110]与[1-10]两个方向上的杨氏模量.2×1表面重构形成了dimmer键,使[110]方向杨氏模量大于[1-10]方向杨氏模量.纳米薄膜的杨氏模量随着温度升高而下降.热膨胀导致了温度效应.当尺度到达纳米尺度,表面重构和温度效应更加明显.