X射线ω扫描方法在Ni-Fe合金镀层织构表征中的应用

• 作者: 冒心远 王黎东 费维栋 车春波
• 来源期刊: 工程与试验
• 学科: 物理学
• 关键词: Ni-Fe合金镀层 铝合金 ω扫描
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 试验技术与方法
• 页码范围: 25-27,66
• 页数: 4页
• 分类号: O766+.3
• 字数: 2622字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3407.2009.04.007

摘要

X射线ω扫描技术是一种较方便地确定和分析薄膜织构的方法,能够克服常规XRD方法测定薄膜纤维织构难获得薄膜信息的问题.本文对这种方法进行了介绍,利用电镀法在2024铝合金上制备了不同电镀时间的Ni-Fe合金镀层,利用X射线ω扫描技术对镀层进行织构表征,对电镀时间与织构特性的关系进行了讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	费维栋	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	33	169	8.0	11.0
2	车春波	哈尔滨商业大学食品工程学院环境工程系	41	219	8.0	13.0
3	王黎东	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	12	45	3.0	6.0
4	冒心远	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	2	2	1.0	1.0