电子器件噪声高斯性和线性的定量分析方法

• 作者: 包军林 庄奕琪 李伟华 杜磊 马中发
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 电子器件的噪声 时问序列分析 高阶统计量 高斯性 线性
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 页码范围: 1059-1062,1091
• 页数: 5页
• 分类号: TN386.1
• 字数: 2387字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2009.06.019

摘要

基于高阶统计量理论,采用双相干系数平方和对电子器件噪声进行了定量分析.通过分析非线性非高斯信号、线性非高斯信号、非线性高斯信号、线性高斯信号,给出噪声信号的线性与高斯性的定量判定标准.将这种分析方法用于实验测量的电子器件噪声信号分析,表明电子器件噪声中存在这4种类型的信号,并可以用该方法进行有效区分.研究结果为电子器件噪声非常规特性的分析提供了理论依据与定量判据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庄奕琪	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	183	1168	15.0	22.0
2	杜磊	西安电子科技大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
3	包军林	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	43	306	10.0	16.0
4	马中发	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	9	34	3.0	5.0
5	李伟华	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	16	98	6.0	9.0