原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
温度和热应力是引起印刷电路板功能失效的重要原因,针对某电子设备的PCB,对其温度-应力耦合场进行有限元分析,找出了印刷电路最大可能的失效区域;采用DOE方法对元器件结构布局进行了优化设计,使离面正负最大变形量达到最小值,应力集中得到了改善,提高了PCB的使用寿命.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 印刷电路板温度-应力耦合场有限元分析
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 印刷电路板 温度-应力耦合 有限元 优化设计
年,卷(期) 2009,(1) 所属期刊栏目 计算机科学与技术
研究方向 页码范围 37-42
页数 6页 分类号 TN41|TP391.9
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.01.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡志刚 河南科技大学机电工程学院 124 347 9.0 12.0
2 姜青龙 河南科技大学机电工程学院 1 10 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
印刷电路板
温度-应力耦合
有限元
优化设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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9369
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