连续激光作用下滤光片熔坑形成机理研究

• 作者: 付博 张大勇 张翠娟 罗福 罗飞 袁红
• 来源期刊: 应用激光
• 关键词: 杂质 损伤 激光 滤光片 温度场
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 431-434
• 页数: 4页
• 字数: 2230字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-372X.2009.05.016

摘要

在532nm波长连续激光辐照ZnS/SiO2/K9 630～690nm多层膜滤光片的损伤实验的电镜扫描分析下观察到了"熔坑"的现象,根据这个现象建立了含有Pt杂质的532nm波长连续激光辐照ZnS/SiO2/K9 630～690nm多层膜滤光片的热损伤模型.结合温度场的计算,研究了532nm连续激光辐照630～690nm多层薄膜滤光片时杂质周围产生的温升效应,通过对计算结果与实验结果的比较,分析了杂质对滤光片薄膜激光损伤的影响.分析了连续激光作用下杂质对滤光片的破坏机制,解释了滤光片熔坑产生的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张大勇	中国工程物理研究院流体物理研究所	62	225	7.0	12.0
2	罗飞	中国工程物理研究院流体物理研究所	34	145	7.0	10.0
3	罗福	中国工程物理研究院流体物理研究所	15	128	6.0	11.0
4	付博	中国工程物理研究院流体物理研究所	15	51	5.0	6.0
5	袁红	中国工程物理研究院流体物理研究所	12	67	5.0	8.0
6	张翠娟	中国工程物理研究院流体物理研究所	7	20	3.0	4.0