双游程编码的无关位填充算法

• 作者: 姚博 宋晓笛 方昊 程旭
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试 测试数据压缩 游程编码 无关位填充
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1-6
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 6517字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2009.01.001

摘要

双游程编码是集成电路测试数据压缩的一种重要方法,可分为无关位填充和游程编码压缩两个步骤.现有文献大都着重在第二步,提出了各种不同的编码压缩算法,但是对于第一步的无关位填充算法都不够重视,损失了一定的潜在压缩率.本文首先分析了无关位填充对于测试数据压缩率的重要性,并提出了一种新颖的双游程编码的无关位填充算法,可以适用于不同的编码方法,从而得到更高的测试数据压缩率.该算法可以与多种双游程编码算法结合使用,对解码器的硬件结构和芯片实现流程没有任何的影响.在ISCAS89的基准电路的实验表明,对于主流的双游程编码算法,结合该无关位填充算法后能提高了6%-9%的测试数据压缩率.