一种变游程编码的 X位填充压缩方法

• 作者: 熊杰超 颜学龙
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: X位填充 测试数据压缩 测试功耗
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 页码范围: 134-136,142
• 页数: 4页
• 分类号: TP31
• 语种: 中文

摘要

解决数据容量大的问题是当前SOC测试中的一个主要挑战。对此提出了一种基于无关位填充的变游程编码测试数据压缩方案，该方案利用变长到变长的编码方式对任意长度游程进行编码。理论分析和实验结果表明：该填充方法在不增加测试功耗的同时，能取得较高的压缩率，同时还提出了一种基于有限状态机的解码结构。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	熊杰超	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	3	1.0	1.0