液晶介电常数对耦合电容的影响

• 作者: 马占洁
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示器 介电常数 耦合电容
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 器件制备技术及器件物理
• 页码范围: 193-198
• 页数: 6页
• 分类号: TN27
• 字数: 4341字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2009.02.008

摘要

采用2DMOS模拟软件对数据线与其相邻像素电极所构成的耦合电容Cpd进行了模拟,重点研究了介电常数对数据线左右侧的耦合电容Cpd的影响机理及趋势.通过模拟得出:数据线左侧的耦合电容Cpd主要受液晶层间的电场力影响,数据线右侧的耦合电容Cpd主要受到耦合电容Cpd间的电场力影响,而总耦合电容Cpd中占主要部分的是右侧耦合电容Cpd,因此可通过降低右侧耦合电容Cpd的方法来降低总耦合电容Cpd.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马占洁		2	5	1.0	2.0