基于AD5933的阻抗分析仪的设计和实现

• 作者: 李静 陈世利 靳世久
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: AD5933 阻抗测量 单片机
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 仪器研制和开发
• 页码范围: 28-30,56
• 页数: 4页
• 分类号: TM934.73
• 语种: 中文

摘要

本文详细介绍了基于AD5933的阻抗分析仪的原理和软硬件实现.该阻抗分析仪采用数字频率合成器(DDS)产生激励信号,施加在待测阻抗上,ADC采集响应信号并送到片内DFT模块进行数字处理,测量结果通过I2C送至单片机,由单片机经串口传至上位机,并予以图形化显示.该仪器能实现待测元件各项参数快速、准确地测量,经实验验证,阻抗幅值和相位测量的相对误差小于5%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	靳世久	天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室	211	3002	28.0	42.0
2	陈世利	天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室	68	787	14.0	25.0
3	李静	天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室	29	274	9.0	16.0