电子显微分析在表征纳米晶体化学组分中的应用

• 作者: 何节玉 柳一鸣 欧阳健明
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 化学
• 关键词: 纳米晶体 电子显微分析 EDS WDS EELS SAED
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 1266-1271
• 页数: 6页
• 分类号: O611.4
• 字数: 4891字
• 语种: 中文

摘要

纳米材料的化学组分及含量影响其光、电、声、热、磁等物理性能,电子显微分析是表征纳米晶体化学组分的重要方法之一.本文综述了X-射线能谱(EDS)、X-射线波谱(WDS)、电子能量损失谱(EELS)和选区电子衍射(SAED)等现代电子显微分析技术在表征纳米晶体化学组分、形貌、尺寸和结构等方面的应用及其研究进展,并比较了这些分析方法存在的差异,提出了其应用中存在的不足及今后的研发方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	欧阳健明	暨南大学生物矿化与结石病防治研究所	203	1463	17.0	26.0
2	何节玉	暨南大学生物矿化与结石病防治研究所	7	21	3.0	4.0
3	柳一鸣	暨南大学生物矿化与结石病防治研究所	8	41	4.0	5.0