基于谢宁DOE的背光灯片内部短路侦测研究

• 作者: 奚立峰 杜世昌 舒逸
• 来源期刊: 机械制造与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 谢宁试验设计 成对(组)比较技术 图基检验 背光灯片 内部短路
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 电气技术与自动化
• 页码范围: 129-132,152
• 页数: 5页
• 分类号: TH74
• 字数: 4943字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-5276.2009.05.048

摘要

谢宁试验设计方法是目前广泛使用的,具有代表性的试验设计方法之一.采用谢宁试验设计的成对(组)比较技术,结合图基检验的方法,针对背光灯片"内部短路"缺陷难以侦测的问题,构建了具体的具有实际操作性的检验侦测手段,并通过实例验证了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	奚立峰	上海交通大学机械与动力工程学院	120	2045	24.0	41.0
2	杜世昌	上海交通大学机械与动力工程学院	33	216	9.0	13.0
3	舒逸		5	47	4.0	5.0