北京同步辐射软X射线偏振测量装置及其应用

• 作者: 刘利娟 周克瑾 孙立娟 崔明启 席识博 朱京涛 朱杰 王占山 薛松 赵佳 赵屹东 郑雷 鄢芬 陈凯 马陈燕
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 同步辐射 软X射线 偏振装置 多层膜偏振元件 磁光法拉第效应
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 同步辐射技术及应用
• 页码范围: 721-724
• 页数: 4页
• 分类号: O434.1|O436.3|O436.4
• 字数: 1853字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2009.10.001

摘要

在北京同步辐射装置(BSRF)设计建造了一套基于多层膜偏振元件的软X射线偏振测量分析装置,可工作在双反、双透、前反后透和前透后反四种工作模式,既可作为偏振测量装置,用于同步辐射光束线和多层膜偏振元件偏振特性测量,也可作为通用反射率计,用于多层膜和薄膜的反射或透射率测量,又可用于磁性材料的磁光效应研究等.利用自行研制的装置和光学元件对BSRF的3W1B光束线的偏振特性进行了系统的测量.测量结果指出,在206 eV时,输出光的线偏振度从起偏前的O.585上升到起偏后的0.995,同步光的线偏振度得到极大改善.利用非周期宽带Mo/Si多层膜开展了铁磁性材料的磁光法拉第效应测量,获得了Ni薄膜3p边附近(60-70 eV)的法拉第旋转角度,最大偏转角度在65.5 eV和68 eV分别为1.85±0.19°和-0.75±0.09°.