一种实用CMOS芯片开路和短路特性测试的新方法

• 作者: 杨卫
• 来源期刊: 电工电气
• 学科: 工学
• 关键词: IDDQ测试 微控制器 电流源 模拟开关 CMOS芯片
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 检验与测试
• 页码范围: 50-53
• 页数: 4页
• 分类号: TM930.12
• 字数: 1824字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-3175.2009.09.016

摘要

IDDQ测试是一种新的集成电路测试方法和技术.这种测试是在多种输入逻辑条件下测试电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早期火效器件.介绍了一种新型的IDDQ开路和短路测试方法;利用模拟开关和简单的电流源并利用带A/D模块的MCU组成一个开路和短路测试电路.该方法既节省成本,又能实现简单的智能学习.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨卫	苏州大学电子信息学院	1	2	1.0	1.0