多退化模式下的电子装备可靠性建模

• 作者: 吕萌 张志斌 蔡金燕
• 来源期刊: 火力与指挥控制
• 学科: 工学
• 关键词: 电子装备 可靠性 性能退化 多退化模式
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 工程实践
• 页码范围: 164-166,170
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 3560字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0640.2009.10.045

摘要

通常加速退化分析中退化失效只考虑或者假设只有一个退化通道,而实际上很多情况下会存在多退化模式.产品的各个退化通道间的关系存在随机性,即任意两个退化通道间不可能只是单一的相关或者独立.在考虑这种相关性的条件下,深入研究了电子产品的性能退化理论和机理,提出了两个多退化模式竞争失效的数学模型,分别阐述了退化通道相关与独立的两种不同情况下产品可靠度评估方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡金燕		144	811	13.0	18.0
2	吕萌		17	48	4.0	5.0
3	张志斌		9	75	5.0	8.0