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单能电子诱发DNA损伤的理论计算
单能电子诱发DNA损伤的理论计算
作者:
岳峰
原文服务方:
原子能科学技术
DNA损伤
径迹结构
直接损伤
间接损伤
自由基
摘要:
利用径迹结构的方法模拟了单能电子从入射DNA水溶液到最终产生DNA损伤的早期物理和化学变化过程.着重研究了直接能量沉积导致碱基损伤的判断方法、DNA损伤穷举分类的定义及计算机实现方法,以及确定自由基产生位置的随机抽样方法.结果表明:物理、化学径迹与DNA的反应主要以NB(no break)的形式存在,而在链断裂中,主要也以易修复的单链断裂(SSB)为主;在为数不多的双链断裂(DSB)中,复杂DSB占到相当数量的份额.验证了DNA是辐射作用主要"靶"的假定.
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文献信息
篇名
单能电子诱发DNA损伤的理论计算
来源期刊
原子能科学技术
学科
关键词
DNA损伤
径迹结构
直接损伤
间接损伤
自由基
年,卷(期)
2009,(2)
所属期刊栏目
技术及应用
研究方向
页码范围
189-192
页数
4页
分类号
TL72
字数
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
岳峰
中国原子能科学研究院辐射安全研究部
2
3
1.0
1.0
传播情况
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版权信息
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DNA损伤
径迹结构
直接损伤
间接损伤
自由基
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
原子能科学技术
主办单位:
中国原子能科学研究院
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-6931
CN:
11-2044/TL
开本:
大16开
出版地:
北京275信箱65分箱
邮发代号:
创刊时间:
1959-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
7198
总下载数(次)
0
总被引数(次)
27955
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