"日盲"紫外ICCD的信噪比

• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 紫外ICCD 信噪比 光电冲激响应
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 2712-2718
• 页数: 7页
• 分类号: TN386.5|TN23
• 字数: 3900字
• 语种: 中文

摘要

分析了"日盲"紫外增强型电荷耦合装置(SBUV-ICCD)噪声的来源及特点.考虑SBUV-ICCD工作时系统增益高,单光电子的响应会扩散到CCD邻近像素中去,故将SBUV-ICCD作为线性时不变系统,引入单光电子冲激响应到SBUV-ICCD信噪比计算中,利用傅里叶变换原理推导出其信噪比模型.模型采用了二维高斯函数拟合SBUV-ICCD单光电子冲激响应的方法,较传统间接分析的方法更为简单适用.分析了增益对SBUV-ICCD信噪比的影响,测量了辐照度在10.3～810.6 pW/cm~2内变化时SBUV-ICCD的信噪比.实验结果表明,该模型的标准差为0.78,可用于SBUV-ICCD的性能分析.