减模式下数字散斑干涉光强不均匀性对检测的影响和校正方法

• 作者: 何东升 古彬 方志强 杨德兴
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 数字散斑干涉术 图像处理 图像校正 减模式
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 图像处理
• 页码范围: 362-365
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2417字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS20092902.0362

摘要

在数字散斑干涉测量中,照明光的不均匀或被测试物反射光的不均匀,会导致条纹图像不均匀,严重时甚至会引起条纹的丢失.在分析剪切型散斑干涉原理的基础上,基于散斑相位差的主值在(-π,π]均匀分布的假设,提出了减模式下光强不均匀的校正方法,即通过构建一个新的强度分布函数,分区域消除背景光强,从而消去光强调制项,使干涉条纹图的显示强度变得均匀.将该方法应用于受到强烈冲撞的航空复合材料的剪切散板干涉测量中,将原来隐藏在光强较弱区域的条纹清晰地显示了出来.表明本文的方法能有效地降低光强不均匀性对散斑干涉条纹图的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨德兴	西北工业大学理学院陕西省光信息技术重点实验室	39	273	9.0	14.0
2	何东升	西北工业大学理学院陕西省光信息技术重点实验室	2	2	1.0	1.0
3	古彬	西北工业大学理学院陕西省光信息技术重点实验室	2	2	1.0	1.0
4	方志强	西北工业大学理学院陕西省光信息技术重点实验室	1	2	1.0	1.0