基于存储元素映射的层次化等价性检验方法

• 作者: 曾松伟 李光辉 邵明
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 集成电路 设计验证 等价性检验 存储元素映射
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 48-51
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.72
• 语种: 中文

摘要

为了提高验证效率和处理大规模电路的能力,提出了一种基于存储元素映射的层次化等价性检验方法,该方法将功能性和非功能性的映射方法相结合,提高了存储元素匹配的准确性和完备性.针对一款RSIC CPU设计完成了两组等价性验证实验,结果表明此方法具有很强的实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李光辉	浙江林学院信息工程学院	20	349	11.0	18.0
2	曾松伟	浙江林学院信息工程学院	5	11	2.0	3.0