基于BDD的组合电路等价性检验方法

• 作者: 李光辉 李晓维 邵明
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 形式验证 等价性检验 符号模拟 二叉判决图 组合电路
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 48-51,55
• 页数: 5页
• 分类号: TN7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.02.016

摘要

文章分析了目前常用的等价性检验方法的特点,包括功能性和结构性的验证方法;讨论了基于二叉判决图(BDD)的组合电路等价性检验方法,并分析了等价性检验过程中的误判问题及其消除方法;然后给出了一种关于带黑匣子的部分实现的隐式等价性检验方法,实验结果表明了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
2	邵明	中国科学院计算技术研究所	36	161	8.0	11.0
3	李光辉	中国科学院计算技术研究所	17	172	9.0	13.0