基因芯片数据标准化局部加权回归法权函数探究

• 作者: 张帼奋 董芳英
• 来源期刊: 浙江大学学报（理学版）
• 学科: 数学
• 关键词: 统计模拟 局部加权回归(Lowess) 权函数 MA图 残差平方和(SSE)
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 数学与计算机科学
• 页码范围: 22-29
• 页数: 8页
• 分类号: O213.9
• 字数: 5671字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3785/j.issn.1008-9497.2010.01.006

摘要

局部加权回归方法(Lowess方法)作为一种较常见的基因芯片数据标准化方法涉及到众多的参数和权函数.对于权函数的选择一直以来都是采用三次权函数.因此本文从误差为重尾型的t分布出发,模拟不同自由度的基因芯片数据,然后选择不同的权函数对这些数据进行Lowess方法标准化,并利用残差平方和、标准化后的M和A值的相关系数及MA图作为评判标准,最终得到相关指标量与权函数的变化关系.