原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
提出了一种基于性能退化的贮存加速试验和元器件贮存寿命特征检测分析相结合的方法来进行引进产品电子部件贮存可靠性试验评价研究,并介绍了贮存加速退化试验和寿命特征检测的有关方法.
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文献信息
篇名 引进产品贮存可靠性试验评价方法探讨
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 贮存 可靠性 试验 评价 方法
年,卷(期) 2010,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 6-9
页数 分类号 TB114.2
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2010.06.002
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 程德斌 7 19 2.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
贮存
可靠性
试验
评价
方法
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
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